Oji Keisoku光學薄膜相位差橢圓偏振測量儀
Oji Keisoku光學薄膜相位差橢圓偏振測量儀

1. 測量方式

• 平行尼科爾旋轉法
• 旋轉偏振器法
• 平行尼科爾光譜法（可擴展 400-800 nm 連續光譜）
  三種方法集成在一臺主機內，用戶可按樣品特性一鍵切換 。

2. 測量范圍與精度

• 相位差：2 nm – 20 000 nm（超低到超高全覆蓋）
• 取向角（慢軸角）
  – 分辨率 0.001°
  – 重復性 ≤0.05°（標準樣品 10 次測量 3σ）

1. 超寬量程
   1 nm 起步， 20 000 nm（≈ 20 µm），覆蓋 OLED 圓偏光片超低相位差（< 10 nm）到厚液晶盒、補償膜大相位差（> 5 000 nm）全區間。
2. 高精度與重復性
   相位差分辨率 0.001 nm，重復性 3σ ≤ 0.03 nm（150 nm 標準片，590 nm 波長）；取向角分辨率 0.001°，重復性 3σ ≤ 0.005°。
3. 三合一測量法
   ① 平行尼科爾旋轉法——常規高速面內 mapping；
   ② 旋轉偏振器法——一次旋轉即可得橢圓率 ψ、Δ；
   ③ 平行尼科爾光譜法——400–800 nm 連續譜，給出波長色散曲線。
4. 免維護 LED 光源
   標準 450/500/550/590/630/680 nm 六波段，400–800 nm 分光可選；LED 壽命 > 20 000 h，無需換燈。
5. 尺寸緊湊、開口大
   機身 W300 × D700 × H475 mm，比舊款 KOBRA-W 系列體積減小 40 %；樣品窗開口加大，偏光板、100 × 100 mm 大片可直接插入。