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日本Oji Keisoku便攜式橢圓偏振光學測量儀

日本Oji Keisoku便攜式橢圓偏振光學測量儀
專為“面板等自發光體"設計的輕量化、分體式橢圓偏振態快速檢測儀,廣泛用于產線或實驗室對偏光板、OLED/LCD 模組出射光的偏振質量進行抽查或標定。?

  • 產品型號:PAM-PTB100
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2025-12-12
  • 訪  問  量:85
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詳細介紹

日本Oji Keisoku便攜式橢圓偏振光學測量儀
日本Oji Keisoku便攜式橢圓偏振光學測量儀
本裝置用于測量從平板等偏光板出射的光之偏振狀態。
?單次測量即可同時獲得6個波長下的橢圓率(a/b)與橢圓方位角(Ψ)。
?測量部與控制器分離,可在任意狀態下進行測定。特點
測量方式:旋轉檢偏器法
測量對象:面板等自發光體
測量項目:橢圓率、橢圓方位角專為“面板等自發光體"設計的輕量化、分體式橢圓偏振態快速檢測儀,廣泛用于產線或實驗室對偏光板、OLED/LCD 模組出射光的偏振質量進行抽查或標定。

  1. 旋轉檢偏器法
    電機帶動檢偏器 360° 旋轉,實時記錄光強 I(α),用傅里葉系數反演橢圓率 a/b 與橢圓方位角 Ψ,單次 4 s 完成 。
  2. 6 波長同步
    內置 450 / 500 / 550 / 590 / 650 / 700 nm 六顆 LED 單色光源,一次測量即可給出 6 個波段下的 (a/b, Ψ),無需更換濾光片 。
  3. 分體式便攜
    測量頭僅 1.5 kg,100 × 100 × 110 mm,可手持或固定在治具內;控制器 10 kg,與測量頭電纜最長 5 m,可在暗室/產線任意位置擺放 。
  4. 對“自發光"優化
    光路開口 40 mm × 40 mm,直接對準面板、指示燈、LED 燈箱等自發光體即可測量,無需外置起偏器 。
二、典型規格
測量原理:旋轉檢偏器法(Rotating Analyzer Method)
測量項目:橢圓率 a/b、橢圓方位角 Ψ
測量波長:450 / 500 / 550 / 590 / 650 / 700 nm(半高寬 < 10 nm)
測量光斑:≈ 5 mm 直徑
重復精度:橢圓率 ≤ 0.01,角度 ≤ 0.1°(@ 590 nm,面板 100 cd/m2 以上)
樣品尺寸:開口 ≥ 40 mm 方,厚度無限制(自發光體)
測量時間:≈ 4 s / 6 波長
數據輸出:CSV、文本、含誤差棒的波長依賴圖
系統構成:測量頭 + 控制器 + 筆記本(Windows 10,軟件 PAM-Viewer)
接口:USB 2.0,可外部觸發(TTL)
環境:10 – 35 °C,20 – 80 %RH(無結露)
功耗:整機 60 W(AC 100 – 240 V,50/60 Hz)


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