日本orihara-ss平板玻璃晶圓自動應力檢測儀
日本orihara-ss平板玻璃晶圓自動應力檢測儀

• 直接觀察樣品，即可看到因應力產生的彩色條紋分布
• 并可定量測量應力大小

1. 正交尼科爾法
2. 靈敏色板法（銳敏色法）
3. 錐光法（圓錐偏光法）

1. 桌面型自動雙折射/應力儀，專為平板玻璃、晶圓、光學薄膜等透明樣品設計，可一次性給出“延遲量 R（nm）＋應力值（MPa）＋二維分布圖"。
2. 主要指標
• 測量范圍：0–280 nm（可擴展 0–600 nm 選項）
• 分辨率：1 nm（軟件內插值 0.1 nm）
• 重復精度：±3 nm（@ 20 × 20 mm 區域）
• 樣品尺寸： 200 × 200 mm（可升級 300 × 300 mm）
• 測量點徑：φ5 µm（×10 物鏡）– 3 mm（×0.5 倍宏觀鏡頭）
• 光源：高穩定 LED 白光＋546 nm 單色切換，壽命 20 000 h
• 測量模式：
  – 面掃描（Mapping）：步進 0.1–10 mm 任意設定
  – 線掃描：任意畫線，實時 R 值曲線
  – 單點：0.2 s/點
• 輸出：延遲量 R（nm）、應力 σ（MPa）、角度 θ（°），Excel/CSV/BMP 可導出
• 電源：AC 100–240 V 50/60 Hz 210 W（內置 UPS 級穩壓）
• 體積/重量：320 × 400 × 720 mm，18 kg（可放潔凈工作臺）
3. 光學方法（軟件一鍵切換）
• 旋轉檢偏法（ conforms to GB/T 7962、JIS R3223、ASTM C1279）
• 靈敏色板法（Senarmont）— 適合 < 50 nm 低延遲樣品
• 補償器法（Berek）— 可追溯到 NIST 標準片
4. 典型應用
• 強化玻璃表面應力（DOL/CS）復核
• 半導體晶圓、SiC、GaN 基板切割后殘余應力分布
• OLED 折疊屏 UTG、蓋板玻璃邊緣應力集中
• 光學薄膜（偏光片、CPI、PET）拉伸取向評價
• 透鏡注塑、激光焊接內部應力缺陷篩查