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日本k-matsumi半導體DMA納米粒子測量裝置氣溶膠先經中和器帶已知電荷分布 → 進入同軸圓柱形 DMA → 僅特定電遷移直徑粒子通過狹縫。濃度計數出 DMA 的 mono-mobile 粒子由 CNC（或 CPC）計數 → 掃描電壓即可獲得 10 – 1000 nm 范圍內的 粒徑分布（dN/dlogDp）。結果輸出自動生成 個數濃度、表面積、體積、質量分布 及 平均粒徑、眾數、幾
產品型號：DMA-20廠商性質：經銷商更新時間：2025-12-29訪 問 量：101
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日本k-matsumi半導體DMA納米粒子測量裝置
日本k-matsumi半導體DMA納米粒子測量裝置
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 粒徑范圍 | 10 nm – 1000 nm（單級 DMA） |
| 分辨率 | 64 – 256 通道 / 十倍程可選 |
| 濃度上限 | 10? 粒子/cm3（與稀釋器聯用可擴至 10?） |
| 采樣流量 | 0.3 – 2 L/min 自動恒流 |
| 電壓掃描 | 10 – 10 000 V，線性或對數掃描 ≤ 60 s |
| 重現性 | 計數濃度 ±5 %，粒徑 ±2 % |
| 數據接口 | USB-C + 模擬 0 – 10 V 輸出；附日文/英文軟件 |
| 領域 | 測量對象 |
|---|---|
| 半導體 | CMP 研磨液、晶圓清洗液中的納米顆粒；潔凈室氣溶膠監控 |
| 汽車/電池 | 發動機排氣、EV 電池干法電極粉塵 |
| 醫藥/化妝品 | 噴霧劑、吸入粉體、脂質體粒徑 |
| 環境 | 大氣納米顆粒、煙道 PM1.0、超細顆粒物源解析 |
| 功能材料 | 金屬納米膠體、量子點、陶瓷漿料 |
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