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日本jeol氣相色譜飛行時間質譜聯用分析儀

日本jeol氣相色譜飛行時間質譜聯用分析儀
特別適合需要高分辨率、高質量精度和多種離子化方式的復雜樣品分析。

  • 產品型號:JMS-T2000GC
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2026-01-19
  • 訪  問  量:29
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詳細介紹

日本jeol氣相色譜飛行時間質譜聯用分析儀

日本jeol氣相色譜飛行時間質譜聯用分析儀

核心技術1:追求高性能的飛行時間質譜技術

AccuTOF™ GC-Alpha 是第六代GC-TOFMS產品,離子光學系統采用與傳統V字形相反的構型。設備名稱"Alpha"表示從側視圖看到的離子軌跡呈倒V字形(A形)
關鍵技術創新
  • 4米飛行距離:大幅增加離子飛行距離以提高分辨率
  • 雙級反射電場:采用新型雙級電場梯度反射器
  • 寬能量范圍離子傳輸系統:對應不同能量范圍的離子
性能提升:相比1代AccuTOF™ GC,分辨率提高6倍,質量精度達到1ppm

核心技術2:多種軟離子化技術提供新的定性分析世界

多離子化方法支持
  • EI法(電子轟擊):標準硬離子化方法,有豐富的譜庫支持
  • FI法(場致電離):超軟離子化,分子離子內能極少,適合分子量確認
  • FD法(場致解吸):直接涂布在發射器上,適合熱不穩定化合物
  • PI法(光電離):使用真空紫外燈,對芳香族化合物有選擇性
特色離子源
  • EI/FI/FD共用離子源:無需更換離子源或解除真空
  • EI/PI共用離子源:通過開關燈絲和VUV燈即可切換

核心技術3:追求簡單快速的新一代自動解析軟件

msFineAnalysis AI軟件
  • 集成分析:結合GC/EI數據和GC/軟離子化數據
  • AI結構解析:3種AI(主AI、輔助AI、RI預測)自動進行結構解析
  • 高效解析:最小化解析時間,讓研究人員專注于結果討論和研究

特色功能

直接MS模式(無需GC分離)

支持3種直接MS探頭:
  • DEP(直接暴露探頭):適合高沸點/熱不穩定化合物
  • DIP(直接插入探頭):適合固體樣品
  • FDP(場致解吸探頭):適合高分子量樣品

聚合物分析

結合FD法和KMD(Kendrick質量缺陷)解析,可有效分離和分析聚合物混合物

應用領域

  • 未知物定性分析:EI+軟離子化+精確質量解析
  • 復雜混合物分析:GC×GC二維色譜分析
  • 高沸點化合物分析:直接MS模式
  • 聚合物表征:高分子量、難揮發性化合物
  • 環境分析:微量污染物檢測
  • 食品安全:殘留物分析
  • 代謝組學:生物樣品分析
  • 材料科學:新材料表征

產品優勢

  1. 超高分辨率:30,000分辨率確保相鄰質量離子分離
  2. 亞ppm級質量精度:1ppm質量精度確保分子式確定
  3. fg級靈敏度:18.7fg儀器檢出限,檢測超微量成分
  4. 多種離子化方式:EI/FI/FD/PI自由切換,適應不同分析需求
  5. AI輔助解析:智能化軟件降低分析門檻
  6. 寬質量范圍:m/z 6,000范圍覆蓋常規GC-MS無法檢測的高分子量化合物
  7. 高速數據采集:50Hz數據采集率匹配GC×GC等快速分離技術



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